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*的光路設計：LAP-S1000采用了夫瑯禾費衍射原理和典型的平行光路設計，配備了大功率的半導體激光器；*的高密度探測單元，讓LAP-S1000擁有了*的小顆粒測試能力，LAP-S1000在1μm～1000μm內(nèi)無縫測試。同時LAP-S1000又加入了光路自動調(diào)整裝置，方便操作的同時又延長了儀器的適用壽命。

大功率半導體激光器：LAP-S1000采用了大功率的半導體激光器，增強了儀器的分辨能力，使小顆粒也無處藏身。

光路自動校對：LAP-S1000在噴霧粒度儀中**加入了自動對中功能，LAP-S1000加入的光路自動調(diào)整系統(tǒng)，保證了儀器測量的穩(wěn)定性、準確性。同時大量減少操作者的工作強度。

進口鏡頭：LAP-S1000采用了日本佳能作為主鏡頭，畸變小成像高，接收端采用了直徑150毫米大口徑長焦距鏡頭，顆粒探測更加。

超寬量程：LAP-S1000量程達到了1μm～1000μm。

輔光定位：LAP-S1000加入了輔光定位功能，定位時發(fā)射端兩束激光同時發(fā)出，接收端雙點吻合后接收端即可啟動光路自動調(diào)整系統(tǒng)，大大簡化了調(diào)整難度。噴霧激光粒度分析儀

強大的分析軟件：強大的分析軟件可以隨時記錄所有激光束的內(nèi)所有霧滴的粒度分布。在激光束內(nèi)移動噴霧測試結果可以被連續(xù)記錄和統(tǒng)計分析。

主要技術參數(shù)：

規(guī)格型號		LAP-S1000
執(zhí)行標準		ISO 13320-1:1999；GB/T19077.1-2008
測試范圍		1μm-1000μm
探測器通道數(shù)		66
準確性誤差		<1%（國家標準樣品D50值）
重復性誤差		<1%（國家標準樣品D50值）
進樣方式		開放式進樣
儀器結構		一體式或分體式可選
分體式導軌（選配）		分體式儀器，測試區(qū)域在3米以內(nèi)可以選配導軌
激光器參數(shù)		進口光纖輸出大功率激光器 λ= 650nm, 功率1-40mw可調(diào)
關鍵參數(shù)	測量區(qū)	分體式：儀器0.1到10米范圍可正常測試
		一體式：儀器100mm到340mm
	鏡頭	佳能高性能鏡頭
	鏡頭保護	氣幕保護
	進樣方式	噴射（包含霧滴和固體粉末）
	自動對中	儀器自動調(diào)整光路，電腦軟件一鍵自動完成。
軟件功能	分析模式	包括自由分布、R-R分布和對數(shù)正態(tài)分布、按目分級統(tǒng)計模式等，滿足不同行業(yè)對被測樣品粒度統(tǒng)計方式的不同要求
	統(tǒng)計方式	體積分布和數(shù)量分布，以滿足不同行業(yè)對于粒度分布的不同統(tǒng)計方式
	統(tǒng)計比較	可針對多條測試結果進行統(tǒng)計比較分析，可明顯對比不同批次樣品、加工前后樣品以及不同時間測試結果的差異，對工業(yè)原料質(zhì)量控制具有很強的實際意義
	自行DIY	用戶自定義要顯示的數(shù)據(jù)，根據(jù)粒徑求百分比、根據(jù)百分比求粒徑或根據(jù)
	顯示模板	粒徑區(qū)間求百分比，以滿足不同行業(yè)對粒度測試的表征方式。徑距、一致性、區(qū)間累積等等
	測試報告	測試報告可導出Word、Excel、圖片（Bmp）和文本（Text）等多種形式的文檔，滿足在任何場合下查看測試報告以及科研文章中引用測試結果
	多語言支持	中英文語言界面支持，還可根據(jù)用戶要求嵌入其他語言界面。
操作模式		電腦操作
測試速度		<1min/次
重量		25Kg

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