冷熱沖擊試驗(yàn)箱（兩箱式）

更新時(shí)間：2025-09-28

簡(jiǎn)要描述：

冷熱沖擊試驗(yàn)箱（兩箱式），又稱冷熱沖擊機(jī)或溫度沖擊試驗(yàn)箱，是一種用于測(cè)試材料、元器件及產(chǎn)品在急劇溫度變化下耐受性的設(shè)備 [1]。該設(shè)備廣泛應(yīng)用于電子電工、汽車摩托、航空航天等領(lǐng)域，可評(píng)估零部件及材料的性能穩(wěn)定性與可靠性。

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冷熱沖擊試驗(yàn)箱（兩箱式），又稱冷熱沖擊機(jī)或溫度沖擊試驗(yàn)箱，是一種用于測(cè)試材料、元器件及產(chǎn)品在急劇溫度變化下耐受性的設(shè)備。該設(shè)備廣泛應(yīng)用于電子電工、汽車摩托、航空航天等領(lǐng)域，可評(píng)估零部件及材料的性能穩(wěn)定性與可靠性。

設(shè)備采用二箱式結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，分為高溫區(qū)、低溫區(qū)和測(cè)試區(qū)，通過風(fēng)路切換實(shí)現(xiàn)溫度沖擊，冷熱區(qū)轉(zhuǎn)換時(shí)間≤15秒，溫度恢復(fù)時(shí)間≤5分鐘。制冷系統(tǒng)采用二元復(fù)疊式循環(huán)（基于逆卡若循環(huán)原理，通過壓縮機(jī)絕熱壓縮、冷凝器等溫放熱、膨脹閥絕熱膨脹、蒸發(fā)器等溫吸熱四個(gè)過程實(shí)現(xiàn)降溫），含高溫/低溫雙制冷回路，使用環(huán)保制冷劑。控制系統(tǒng)支持PID自整定及多段程序設(shè)定，配備彩色LCD觸控屏和485通訊接口，溫度控制精度達(dá)±0.1℃。設(shè)備內(nèi)置多重安全保護(hù)功能。

一、產(chǎn)品名稱	冷熱沖擊試驗(yàn)箱（兩箱式）
二、產(chǎn)品型號(hào)	ST-TSD-615FL
三、控制儀表	可程序溫度控制器全觸摸屏控制器，觸摸屏輸入，根據(jù)客戶要求可任意設(shè)定不同高低溫沖擊溫度點(diǎn)，滿足做測(cè)試的不同需求.(具有溫度報(bào)警顯示、實(shí)時(shí)溫度曲線顯示)
四、設(shè)備用途	廣泛用于電子電器零組件塑膠等行業(yè)、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑料等行業(yè)，國(guó)防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理性變化進(jìn)行試驗(yàn),用來(lái)測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)超高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，藉以在最短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理變化。
五、兩箱式特點(diǎn)	二箱設(shè)備區(qū)分為高溫區(qū)、低溫區(qū)二部分，測(cè)試產(chǎn)品置于提籃中, 沖擊時(shí)提籃將測(cè)試產(chǎn)品移進(jìn)高溫區(qū)或低溫區(qū)進(jìn)行衡擊,測(cè)試產(chǎn)品為動(dòng)態(tài)式。 ·二箱移動(dòng)式冷熱沖擊，安全的氣壓驅(qū)動(dòng)測(cè)試物上下來(lái)回沖擊。 ·采進(jìn)口彩色觸控LCD中/英文微電腦溫度控制器。 ·無(wú)紙式記錄功能，具實(shí)時(shí)顯示溫度沖擊試驗(yàn)變化之曲線圖及記錄雙重功能。 ·冷熱沖擊機(jī)構(gòu)移動(dòng)時(shí)間在10秒內(nèi)，可符合MIL，LEC，JIS等規(guī)范。 ·冷熱沖擊溫度恢復(fù)時(shí)間在5分鐘內(nèi)，可符合相關(guān)試驗(yàn)規(guī)范。 ·采用R404和R23環(huán)保冷媒，二元超低溫冷凍系統(tǒng)設(shè)計(jì)，降溫快、效率高。
六、容積、尺寸和重量
6.1.內(nèi)容積	150L
6.2.內(nèi)箱尺寸	*W600H500D500（mm）*
6.3.外型尺寸(約)	約W1600D2000H2100（mm）
6.4.重量	約700kg
七、性能指標(biāo)
7.1.測(cè)試環(huán)境條件	機(jī)器周圍環(huán)境溫度維持在+25~+30℃之間，相對(duì)濕度：≤85%；氣壓：86kPa～106kPa正常大氣壓力。
7.2.滿足標(biāo)準(zhǔn)	.GB/T2423.1-2008 低溫試驗(yàn)方法Test method of low tempemture test ·GB/T2423.2-2008 高溫試驗(yàn)方法Test method of high temperature test ·GB/T2423.22-2012 溫度變化試驗(yàn)Test of temperature chantge ·GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn)Test of temperature shock ·GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn)Test of temperature shock ·GJB367.2-87溫度沖擊試驗(yàn)Test of temperature shock ·QC/T17-92、EIA364-32、IEC68-2-14等
7.3.測(cè)試室溫度范圍	-60℃～+150 ℃ (風(fēng)冷式)
7.3.1.低溫沖擊范圍	-10℃～-60 ℃ 任意可調(diào)）
7.3.2.高溫沖擊范圍	60℃～150 ℃ （任意可調(diào)）
7.4.高溫室
7.4.1.預(yù)熱溫度范圍	RT～+170℃
7.4.2.升溫時(shí)間	RT→+170℃ ≤30min 注：升溫時(shí)間為高溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能
7.5.低溫室
7.5.1.預(yù)冷溫度范圍	RT～-75℃
7.5.2.降溫時(shí)間	RT→ -75℃≤約50min 注：降溫時(shí)間為低溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能
7.6.試驗(yàn)室（試樣區(qū)）
7.6.1.試驗(yàn)方式	把產(chǎn)品擺放在吊籃測(cè)試區(qū)，二箱移動(dòng)式冷熱沖擊，安全的氣壓驅(qū)動(dòng)測(cè)試物上下來(lái)回沖擊。
7.6.2.溫度波動(dòng)度	±0.5℃
7.6.3.溫度偏差	±2.0℃
7.6.5.溫度恢復(fù)時(shí)間	≤5min；轉(zhuǎn)換溫度只需要≤10s（吊籃移動(dòng)時(shí)間：5秒以內(nèi)）
7.7.沖擊暴露時(shí)間	≥30min